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一种离子径迹蚀刻长度批量测量方法及系统
发明人:
李伟星
类别:
发明专利
申请日期:
2023
基于独居石裂变径迹的测年方法
发明人:
岳雅慧,李伟星
类别:
发明专利
申请日期:
2023
基于压力基线校正方法的碳酸盐团簇同位素质谱测试方法
发明人:
谢静,丁林
类别:
发明专利
申请日期:
2023
一种基于自相关噪音成像的地球内部结构探测方法
发明人:
张衡
类别:
发明专利
申请日期:
2023
独居石裂变径迹的常温蚀刻方法及用途
发明人:
岳雅慧
类别:
发明专利
申请日期:
2023
一种板块俯冲热结构参数的数值模拟分析方法
发明人:
季颖锋
类别:
发明专利
申请日期:
2023
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